日本napson半自動(dòng)4探針薄層電阻測試儀
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產(chǎn)品名稱:
日本napson半自動(dòng)4探針薄層電阻測試儀
產(chǎn)品型號(hào):
Cresbox
產(chǎn)品展商:
其它品牌
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
簡單介紹
日本napson半自動(dòng)4探針薄層電阻測試儀測量模式可編程和圓形/方形測量兼容的繪圖軟件自檢功能，測量范圍廣厚度/周邊位置/溫度補(bǔ)償功能（硅）薄層電阻/金屬膜厚顯示功能
日本napson半自動(dòng)4探針薄層電阻測試儀 的詳細(xì)介紹
日本napson半自動(dòng)4探針薄層電阻測試儀
測量規(guī)格
測量目標(biāo)
-
日本napson半自動(dòng)4探針薄層電阻測試儀與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
-
新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
-
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
-
擴(kuò)散樣品硅基外延離子注入樣品
-
其他（*請(qǐng)與我們聯(lián)系）
測量尺寸
?8英寸，或?156x156mm
日本napson半自動(dòng)4探針薄層電阻測試儀測量范圍
[電阻（比電阻）] 1m至300kΩ·cm
[板電阻] 5m至10MΩ/ sq
測量規(guī)格
測量目標(biāo)
-
與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
-
新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
-
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
-
擴(kuò)散樣品硅基外延離子注入樣品
-
其他（*請(qǐng)與我們聯(lián)系）
測量尺寸
?8英寸，或?156x156mm
測量范圍
[電阻（比電阻）] 1m至300kΩ·cm
[板電阻] 5m至10MΩ/ sq
測量規(guī)格
日本napson半自動(dòng)4探針薄層電阻測試儀測量目標(biāo)
-
與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
-
新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
-
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
-
擴(kuò)散樣品硅基外延離子注入樣品
-
其他（*請(qǐng)與我們聯(lián)系）
測量尺寸
?8英寸，或?156x156mm
測量范圍
[電阻（比電阻）] 1m至300kΩ·cm
[板電阻] 5m至10MΩ/ sq
日本napson半自動(dòng)4探針薄層電阻測試儀
